In dieser Arbeit werden spezielle strukturelle und elektronische Eigenschaften von deponierten Silber Nanopartikeln untersucht. Die Experimente und die Ergebnisse können grob in drei Themengebiete unterteilt werden:
Mit der Hilfe einer statistischen Analyse, die experimentelle Daten mit Simulationen vergleicht, wird gezeigt, dass große Silber-Nanopartikel nach der Deposition auf der Si(111)7x7 Oberfläche bis zu einem gewissen Grad umherwandern.
Durch Messungen der Oberflächen-Photospannung ist es möglich, Einsicht in die Band-Topologie von nano-skaligen Metall-Halbleiter Systemen zu erhalten. Die Ergebnisse werden anhand eines Modells der Band-Topologie diskutiert und es wird Bezug zu den Strom-Transport-Mechanismen hergestellt.
Mit Hilfe von Klein-Winkel Röntgen-Streuung unter streifendem Einfall (GISAXS) werden in situ Größen- und Formänderungen von Silber-Nanopartikeln während einer katalytischen Reaktion untersucht.